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[IT뉴스]방사선에 취약한 ‘우주 반도체’···고장 원인 밝혔다

온카뱅크관리자

2024-09-25 10:25:30

<div id="layerTranslateNotice" style="display:none;"></div>  <strong class="summary_view" data-translation="true">원자력·재료연, 국제학술지 표지논문 선정<br>우주선·위성용 내방사선 반도체 연구에 기여</strong> 
        <div class="article_view" data-translation-body="true" data-tiara-layer="article_body" data-tiara-action-name="본문이미지확대_클릭"> 
         <section dmcf-sid="Qdz9DCsdTI">
          <div dmcf-pid="xNfQhYTNvO" dmcf-ptype="general">
           [서울경제] 
           <p>우주방사선이 반도체를 고장내는 구체적 원리를 국내 연구진이 밝혀냈다. 향후 인공위성이나 우주선에 탑재 가능하면서도 우주방사선을 견디는 ‘내방사선 반도체’ 개발의 실마리를 제공할 것으로 기대된다.</p>
          </div>
          <figure class="figure_frm origin_fig" dmcf-pid="y0CT4RQ0Ts" dmcf-ptype="figure">
           <p class="link_figure"><img alt="연구팀의 연구성과가 표지논문으로 게재된 국제학술지 '나노머티리얼즈' 8월호. 사진 제공=원자력연" class="thumb_g_article" data-org-src="https://t1.daumcdn.net/news/202409/25/seouleconomy/20240925102535357faqz.jpg" data-org-width="640" dmcf-mid="Pzcr72bYlC" dmcf-mtype="image" height="auto" src="https://img1.daumcdn.net/thumb/R658x0.q70/?fname=https://t1.daumcdn.net/news/202409/25/seouleconomy/20240925102535357faqz.jpg" width="658"></p>
           <figcaption class="txt_caption default_figure">
            연구팀의 연구성과가 표지논문으로 게재된 국제학술지 '나노머티리얼즈' 8월호. 사진 제공=원자력연
           </figcaption>
          </figure>
          <div dmcf-pid="Wphy8expCm" dmcf-ptype="general">
           <p>한국원자력연구원은 한국재료연구원과 함께 2차원 나노 소재인 이황화몰리브덴 기반 반도체에 우주방사선의 일종인 감마선이 미치는 영향과 그 원리를 규명했다고 25일 밝혔다. 연구성과는 국제 학술지 ‘나노머티리얼즈’ 8월호에 표지논문으로 게재됐다.</p>
          </div>
          <p dmcf-pid="YzTHxndzvr" dmcf-ptype="general">강한 우주방사선은 반도체에 영향을 미쳐 전자기기에 고장을 일으키는 것으로 알려졌지만 정확한 메커니즘은 제대로 밝혀지지 않았다. 고장 원인과 이를 보완할 방법을 찾아야 우주에서도 안정적으로 작동하는 내방사선 반도체 개발이 이뤄질 수 있다.</p>
          <p dmcf-pid="GqyXMLJqvw" dmcf-ptype="general">연구팀은 방사선을 비교적 잘 견디는 이황화몰리브덴 소재를 활용한 반도체 소자를 제작한 후 감마선을 조사해 전기적 특성을 분석했다. 그 결과 아황화몰리브덴에서 전자가 비정상적으로 빠져나와 절연체와 경계면의 공기층으로 들어가는 ‘전자 터널링’ 현상이 발생하고 이것이 고장의 직접적 원인이라는 사실을 확인했다. 감마선 조사량이 늘어날수록 전자 터널링 현상도 더 많이 일어났다.</p>
          <p dmcf-pid="HBWZRoiByD" dmcf-ptype="general">이는 고장의 원인이 반도체 소자 자체의 변화가 아니라 반도체 내부의 경계면과 제작공정에서 발생한 공기층에 있을 수 있음을 시사한다고 연구팀은 설명했다. 연구팀은 이번 연구를 바탕으로 반도체 소자가 방사선을 견디는 특성을 개선하고 다양한 내방사선 반도체 연구를 수행할 계획이다.</p>
          <p dmcf-pid="XxpqAmDxvE" dmcf-ptype="general">정병엽 원자력연 첨단방사선연구소장은 “나노소재를 이용한 내방사선 반도체 기술 개발은 아직 초기 단계”라며 “방사선으로 인해 화학적·물리적 성질이 나빠지는 열화현상의 근본적 원인을 밝힐 수 있도록 노력하겠다”고 말했다.</p>
          <div dmcf-pid="ZMUBcswMTk" dmcf-ptype="general">
            김윤수 기자 sookim@sedaily.com
          </div>
         </section> 
        </div> 
        <p class="" data-translation="true">Copyright © 서울경제. 무단전재 및 재배포 금지.</p>

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