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[IT뉴스]디스플레이용 '마이크로 LED 검사장비' 국제 표준으로 추진

온카뱅크관리자

2024-05-22 06:01:41

<div id="layerTranslateNotice" style="display:none;"></div>  <strong class="summary_view" data-translation="true">22~24일 반도체 소자(IEC TC47) 국제회의 개최</strong> 
        <div class="article_view" data-translation-body="true" data-tiara-layer="article_body" data-tiara-action-name="본문이미지확대_클릭"> 
         <section dmcf-sid="KXHAkEGkuF">
          <p dmcf-pid="9z7hSvuSzt" dmcf-ptype="general">(지디넷코리아=이나리 기자)차세대 디스플레이의 핵심부품으로 평가되는 마이크로 엘이디(Micro LED, 초소형 발광 다이오드) 소자의 검사장비 기술이 국제표준으로 추진된다. </p>
          <p dmcf-pid="2p0sIC3I31" dmcf-ptype="general">산업통상자원부 국가기술표준원(원장 진종욱, 이하 국표원)은 22일부터 24일까지 제주에서 개최되는 '반도체 소자(IEC TC47) 국제표준 회의'에서 이번 표준을 제안했다. 이번 회의에는 한국, 중국, 일본, 독일 4개국 50여명의 반도체 전문가가 참가했다.</p>
          <figure class="figure_frm origin_fig" dmcf-pid="V3FrsOtsU5" dmcf-ptype="figure">
           <p class="link_figure"><img alt="마이크로 LED 소자 품질 측정법 개요 (사진=산업부)" class="thumb_g_article" data-org-src="https://t1.daumcdn.net/news/202405/22/ZDNetKorea/20240522060143373upou.jpg" data-org-width="579" dmcf-mid="bGxF0pQ033" dmcf-mtype="image" height="auto" src="https://img1.daumcdn.net/thumb/R658x0.q70/?fname=https://t1.daumcdn.net/news/202405/22/ZDNetKorea/20240522060143373upou.jpg" width="658"></p>
           <figcaption class="txt_caption default_figure">
            마이크로 LED 소자 품질 측정법 개요 (사진=산업부)
           </figcaption>
          </figure>
          <p dmcf-pid="fDE8PQkP0Z" dmcf-ptype="general">최근 우리나라는 인공지능용 뉴로모픽 반도체, 시스템 반도체 공정 부품 검사장비 등의 국제표준 개발을 주도하고 있으며, 이번 회의에서 디스플레이용 마이크로 LED 소자 품질평가 방법을 신규로 제안했다. </p>
          <p dmcf-pid="4NaK2Vg27X" dmcf-ptype="general">마이크로 LED는 무기발광 소자로써, 탄소화합물 기반 유기발광 소자인 OLED보다 수명이 길고, 화면에 잔상이 남는 번인현상이 없어 차세대 디스플레이로 각광받고 있다. </p>
          <p dmcf-pid="8NaK2Vg2zH" dmcf-ptype="general">마이크로 LED 디스플레이는 머리카락 굵기(평균 100㎛) 보다 얇은 1~20 마이크로미터(㎛) 크기의 LED 소자를 수천만에서 수억 개를 붙여 제작한다. 개개의 LED가 화소의 구성요소가 되어 그 자체로 색과 빛을 조절하기 때문에 균일한 품질의 LED 소자를 확보하는 것이 관건이다.</p>
          <p dmcf-pid="6ZXcEDHEuG" dmcf-ptype="general">제안 표준은 광발광(Photoluminescence) 측정법을 활용한 비접촉식 마이크로 LED 소자 품질 검사 방법이다. 광발광 측정법은 LED 소자가 레이저 등을 통해 빛에너지를 받으면 마치 전원이 연결된 것처럼 빛을 내는데, 이 빛을 분석해 검사하는 비접촉식 방법이다.</p>
          <p dmcf-pid="PyToaNva3Y" dmcf-ptype="general">기존 방식인 전원을 연결하는 접촉식 방법 대비 빠르고 경제적으로 불량 여부를 확인할 수 있어 마이크로 LED 소자 품질 검사 비용을 50%이상 절감할 수 있을 것으로 기대된다.</p>
          <p dmcf-pid="QYWajAyj7W" dmcf-ptype="general">이번 제안은 국표원의 '첨단산업 국가 표준화 전략'의 일환으로 국내 중소기업의 마이크로 LED 검사 장비 기술을 활용하여 추진됐다.</p>
          <p dmcf-pid="xOsMedme7y" dmcf-ptype="general">오광해 국표원 표준정책국장은 "마이크로 LED 소자를 활용한 차세대 디스플레이는 현재 본격 상용화를 앞두고 있어 큰 성장이 기대되는 분야"라면서 "우리나라 기업의 장비 기술이 국제표준이 되어 세계의 기준이 될 수 있도록 적극 지원하겠다"고 전했다.</p>
          <p dmcf-pid="yHGjckYczT" dmcf-ptype="general">이나리 기자(narilee@zdnet.co.kr)</p>
         </section> 
        </div> 
        <p class="" data-translation="true">Copyright © 지디넷코리아. 무단전재 및 재배포 금지.</p>

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